DRK-G302颗粒图像分析仪
DRK-G302型颗粒图像分析仪将传统的测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微...
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DRK7020颗粒图像分析仪
drk-7020颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显...
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XE系列超微量、微量分析天平
XE系列超微量、微量分析天平采用全新的超级单体传感器技术—精准、快速、稳定和值得信赖。完全符合21CFRPart11合规性—完全可追溯性。采...
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DRK-FA2004 分析电子天平
FA(万分之一)系列电子天平采用了目前世界上制作高精度电子天平,首选的电磁力平衡技术原理设计而成。该系列电子天平具有常用秤量,特色功能秤量服...
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DRK系列新款圆弧天平
设备采用全玻璃触摸按键,方便用户操作,按键使用寿命高达50000次点击,远超薄膜按键。设备内置海量存储数据功能,可存储数据500条,多用户管...
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DRK-JA5003 精密电子天平
JA(千分之一)系列电子天平采用了制作高精度电子天平使用的电磁力平衡技术原理设计而成。该系列电子天平具有常用秤量,特色功能秤量服务和操作简便...
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DRK112B卤素水分仪
DRK112B卤素水分仪,可测量各种粉状、颗粒状、膏状、液体状、有机、无机化工原料,各种谷物、粮食、种子、饲料、淀粉、食品、肉类、烟草、茶叶...
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DRK-1000B热重分析仪
DRK-1000B热重分析仪热重分析(TGA)通过程序控温测量样品质量随温度变化的规律,用于研究材料的热稳定性、组分及分解行为。其核心原理基...
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DRK-Q1000B热重分析仪
热重分析(TGA)通过程序控温测量样品质量随温度变化的规律,用于研究材料的热稳定性、组分及分解行为。其核心原理基于质量变化与温度的函数关系,...
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